新闻详情

PIV的技术原理

日期:2019-12-11 09:07
浏览次数:194
摘要:
PIV的技术原理
      PIV技术除向流场散布示踪粒子外,所有测量装置并不介入流场。另外PIV技术具有较高的测量精度。由于PIV技术的上述优点,已成为当今流体力学测量研究中的热门课题,因而日益得到重视。PIV测速方法有多种分类,无论何种形式的PIV,其速度测量都依赖于散布在流场中的示踪粒子,PIV法测速都是通过测量示踪粒子在已知很短时间间隔内的位移来间接地测量流场的瞬态速度分布。若示踪粒子有足够高的流动跟随性,PIV示踪粒子的运动就能够真实地反映流场的运动状态。因此示踪粒子在PIV测速法中非常重要。在PIV测速技术中,高质量的示踪粒子要求为:(1)比重要尽可能与实验流体相一致;(2)足够小的尺度;(3)形状要尽可能圆且大小分布尽可能均匀;(4)有足够高的光散射效率。通常在液体实验中使用空心微珠或者金属氧化物颗粒,空气实验中使用烟雾或者粉尘颗粒(超音速测量使用纳米颗粒),微管道实验使用荧光粒子等。

尊敬的客户:

  本公司还有层析成像系统全场应变DIC光学参量发生器产品,您可以通过网页拨打本公司的服务电话了解更多产品的详细信息,至善至美的服务是我们的追求,欢迎新老客户放心选购自己心仪产品,我们将竭诚为您服务!

京公网安备11010802026241号