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全场应变DIC测量技术

日期:2019-12-11 08:38
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摘要:
全场应变DIC测量技术
  全场应变DIC应变片测量只能测得应变场内的离散数据,而DIC可以获取视场内的所有应变信息,消除了应变集中区的不确定性给测量带来的不确定因素。
  全场应变DIC技术的非接触光学测量特性,能够在不影响试件本身力学性能的情况下完成对数据的采集,这对于纤维、膜等不适于粘贴应变片的材料和结构实验更具有优势。
  很多复合材料对温度具有敏感性,在不同的温度条件下,表现出来的力学性能差别可能很大。相比较于传统测试方法系统集成白光成像系统与红外成像系统,获取在同一坐标系下**的温度场和应变场数据,实现了温度与机械载荷耦合的测量。
  在实际的实验工作中,经常会遇到大变形或超大变形的测量需求。但由于应变片的可测量区间限制,难以满足大变形实验的测量要求。而DIC技术的极限应变测量范围从0.005%到2000%以上,能够很好的完成该类测试任务;

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