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粒子成像测速原理

日期:2019-11-14 01:50
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摘要:
 粒子成像测速定义
      粒子成像测速技术是在传统流动显示技术基础上,利用图形图像处理技术发展起来的一种新的流动测量技术。综合了单点测量技术和显示测量技术的优点,克服了两种测量技术的弱点而成的,既具备了单点测量技术的精度和分辨率,又能获得平面流场显示的整体结构和瞬态图像。
      粒子成像测速,是一种用多次摄像以记录流场中粒子的位置,并分析摄得的图像,从而测出流动速度的方法。
基本原理
      在流场中布撒示踪粒子,并用脉冲激光片光源入射到所测流场区域中,通过连续两次或多次曝光,粒子的图像被记录在底片上或CCD相机上。采用光学杨氏条纹法、自相关法或互相关法,逐点处理PIV底片或CC 记录的图像,获得流场速度分布。因采用的记录设备不同,又分别称FPIV(用胶片作记录)和数字式图像测速DPW(用CCD相机作记录)。
优点
      粒子成像测速技术的突出优点表现在:(1)是一种非接触式流动测量方法,突破了空间单点测量(如LDV)的局限性,实现了全流场瞬态测量;(2)实现了无扰测量,而用毕托管或HWFV等仪器测量时对流场都有一定的干扰;(3)容易求得流场的其他物理量,由于得到的是全场的速度信息,可方便的运用流体运动方程求解诸如压力场、涡量场等物理信息。因此,该技术在流体测量中占有重要的地位。

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