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粒子成像测速原理和优点

日期:2020-06-04 21:45
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摘要:
粒子成像测速原理和优点
基本原理
  在流场中布撒示踪粒子,并用脉冲激光片光源入射到所测流场区域中,粒子成像测速通过连续两次或多次曝光,粒子的图像被记录在底片上或CCD相机上。采用光学杨氏条纹法、自相关法或互相关法,逐点处理PIV底片或CC 记录的图像,获得流场速度分布。因采用的记录设备不同,又分别称FPIV(用胶片作记录)和数字式图像测速DPW(用CCD相机作记录)。
优点
  粒子成像测速技术的突出优点表现在:(1)是一种非接触式流动测量方法,突破了空间单点测量(如LDV)的局限性,实现了全流场瞬态测量;(2)实现了无扰测量,而用毕托管或HWFV等仪器测量时对流场都有一定的干扰;(3)容易求得流场的其他物理量,由于得到的是全场的速度信息,可方便的运用流体运动方程求解诸如压力场、涡量场等物理信息。因此,该技术在流体测量中占有重要的地位。

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